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X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪(XRF)是一种用于元素分析的仪器,通过高能X射线照射样品,激发样品原子产生特征X射线荧光,再通过探测器测量荧光的能量和强度,确定元素的种类和含量。XRF具有非破坏性、快速分析和多元素同时检测的特点,适用于固体、液体和粉末样品的分析。广泛应用于地质、冶金、环境、建材和考古等领域,是材料成分分析和质量控制的重要工具。在环境实验室中常用来无损快速分析重金属、微量元素等。

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